Новости участников и партнёров сообщества

Компания Остек-Электро разработала ресурс в помощь тестовым инженерам, применяющим периферийное сканирование JTAG

На сайте www.jtag.expert доступны функции поиска BSDL-моделей через контекст и с помощью загрузки BOM-файла.

Особенность ресурса в том, что в одном месте собраны модели на некоторые российские микросхемы, разработанные компаниями МЦСТ, НИИЭТ, Миландр, НТЦ Модуль, НПЦ Элвис, ВЗПП-С и Цифровые решения. База будет постоянно пополняться.

Большинство микросхем этих производителей поддерживает стандарт IEEE 1149.1, который позволяет тестировать платы, имеющие в своем составе тестопригодные микросхемы, и быстро локализовывать дефекты монтажа. Особенностью технологии является наличие у компонента JTAG-интерфейса, который имеют большинство современных компонентов, таких как микропроцессоры, DSP, ASIC, ПЛИС (FPGA).

С помощью технологии периферийного сканирования можно проверять собранные печатные узлы, а также проводить входной контроль ИМС с поддержкой стандарта JTAG.

Применение системы для входного контроля позволяет выявить следующие дефекты:
  • дефекты производства ПП;
  • дефекты монтажа компонентов;
  • дефекты разварки кристалла;
  • дефекты связей в микросборке (SiP);
  • дефекты монтажа BGA.

С дополнительной информацией вы можете ознакомиться на сайте www.ostec-electro.ru, или задав вопрос по электронной почте: ostecelectro@ostec-group.ru.