Особенность ресурса в том, что в одном месте собраны модели на некоторые российские микросхемы, разработанные компаниями МЦСТ, НИИЭТ, Миландр, НТЦ Модуль, НПЦ Элвис, ВЗПП-С и Цифровые решения. База будет постоянно пополняться.
Большинство микросхем этих производителей поддерживает стандарт IEEE 1149.1, который позволяет тестировать платы, имеющие в своем составе тестопригодные микросхемы, и быстро локализовывать дефекты монтажа. Особенностью технологии является наличие у компонента JTAG-интерфейса, который имеют большинство современных компонентов, таких как микропроцессоры, DSP, ASIC, ПЛИС (FPGA).
С помощью технологии периферийного сканирования можно проверять собранные печатные узлы, а также проводить входной контроль ИМС с поддержкой стандарта JTAG.
Применение системы для входного контроля позволяет выявить следующие дефекты:
- дефекты производства ПП;
- дефекты монтажа компонентов;
- дефекты разварки кристалла;
- дефекты связей в микросборке (SiP);
- дефекты монтажа BGA.
С дополнительной информацией вы можете ознакомиться на сайте www.ostec-electro.ru, или задав вопрос по электронной почте: ostecelectro@ostec-group.ru.